/>CN
EN
DE
JP
IC芯片表面多胶、脏污检测
IC芯片表面多胶、脏污检测
应用描述
检测单个IC元件表面脏污、多胶。由于塑胶框架的结构，选用比较均匀的球积分光源，从而能够使脏污、多胶突显出来。
实物图
|
效果图
|
|
|
实物图
|
效果图
|
|
手机请直接输入：
座机前加区号：+86-0769-82716188-251
